本文標(biāo)題："光學(xué)玻璃纖維材料截面折射率測(cè)量用顯微鏡"

光學(xué)玻璃纖維材料截面折射率測(cè)量用顯微鏡

    在研究光學(xué)玻璃纖維材料的制備、改進(jìn)和發(fā)展以及設(shè)計(jì)新型的光
學(xué)玻璃纖維材料時(shí)，測(cè)量它的折射率截面（分布）有重要的意義。

光學(xué)干涉測(cè)量方法進(jìn)行光纖折射率截面（分布）的測(cè)試，

    即雙光束干涉法（DB）和千涉一剪象法（PS）。在敘述了所用的
設(shè)備、原理和側(cè)量步驟之后，給出了若千拉絲棒和個(gè)別光纖樣品折射
率截面（分布）曲線的側(cè)試結(jié)果，并略加討論。

    人工生長(zhǎng)的品體在半導(dǎo)體、激光、紅外、光學(xué)、信息處理等技術(shù)
領(lǐng)域獲得了廣泛的應(yīng)用。

    缺陷對(duì)單晶材料的許多性能有重要的影響，因而對(duì)晶體缺陷進(jìn)行
研究是十分必要的。x 射線形貌術(shù)是研究晶體缺陷的一種重要方法，
它具有非破壞性、整體觀察、能測(cè)定位錯(cuò)和其他缺陷的柏格斯矢量和
向指等特點(diǎn)

    我們對(duì)掃描透射形貌術(shù)和反射透射形貌術(shù)的衍射幾何條件和影響
分辨率的因素作了較詳細(xì)的分析，建立了按照分辨率等要求選擇合適
實(shí)驗(yàn)條件的方法，以及按衍射條件選擇反射法合適的衍射晶面和衍射
角的實(shí)驗(yàn)方法
 

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